Sanghyeon Ju

TCAD · pMOS PROCESS OPTIMIZATION

Optimization Method Comparison and Final Device

10. Optimization Method Comparison and Final Device

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Item Description
Method 1 각 metric과 변화율을 직접 비교
Method 2 Ion/Ioff와 SS를 한 평면에서 비교
Decision rule 목표 Ion을 유지하면서 leakage와 SS가 더 낮은 조건 선택
Final result Method 2 candidate

Final Candidate Comparison

Final method comparison

Figure. Method 1과 Method 2 최종 후보의 공정 조건과 전기적 성능 비교.

Metric Numerical Method Plot-Based Method Difference
Ion 1.474e-04 1.35e-04 plot method 약 9.2% 낮음
Ioff 1.547e-15 4.93e-16 plot method 약 68.1% 낮음
SS 85.660 85.181 plot method 약 0.56% 낮음
gm 1.044e-04 9.91e-05 plot method 약 5.3% 낮음

Interpretation

Numerical Method

Plot-Based Method

Final Process Condition

Parameter Final Value
Lg 0.25
GOxTime 10
NWell 1e17 cm^-3
LDD_Dose 3e13 cm^-2
LDD_E 3 keV
SD_Dose 5e16 cm^-2
SD_E 10 keV
RTA 3 s
Spacer_Dep 0.30
Vg -2.5 V
Vd -1.0 V

Electrical Results

Metric Result Target Check
Vtgm -1.1421 V pMOS negative threshold Pass
Ion 1.35e-04 A/µm > 1e-5 Pass
Ioff 4.93e-16 A/µm < 1e-14 Pass
SS 85.181 mV/dec < 100 Pass
gm 9.91e-05 reference -
Vg0_actual 0 V 0 V Verified
VgIon_actual -2.5 V -2.5 V Verified

Final Decision

두 조건 모두 target을 만족했습니다. 그래프 기반 조건은 Ion과 gm이 조금 낮았지만 목표를 충분히 초과했고, Ioff 감소 폭이 훨씬 컸으며 SS도 개선되었습니다.

따라서 전체적인 switching/leakage 균형을 기준으로 그래프 기반 조건을 최종 소자로 선정했습니다. 이 결과는 모든 가능한 공정 조합의 global optimum이 아니라 평가한 split 범위에서 선택한 balanced optimum으로 해석합니다.

Data and Report

Next: Limitations and Next Steps

Summary:
The plot-based candidate was selected because its substantial leakage reduction outweighed the moderate reduction in drive current.